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题名:
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装备失效分析技术 [ 专著] zhuang bei shi xiao fen xi ji shu / 刘贵民，杜军编著 , |
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ISBN:
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978-7-118-07998-2 价格： CNY48.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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10,298页 图 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2012 |
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内容提要:
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本书系统介绍了装备失效分析的理论和技术。第1章主要介绍失效分析的意义、基本要求及发展历程。第2章介绍失效分析的基本程序、思路及基本方法，以及常用失效分析技术。第3、4、5、6章分别介绍断裂失效、腐蚀失效、磨损失效和变形失效的原理和技术。第7、8章分别是再制造装备、电子元器件的失效分析。第9章介绍了代表性的装备失效分析案例，可以穿插在其他章节中进行学习和比较。 |
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主题词:
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武器装备 失效分析 |
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主题词:
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武器装备 |
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主题词:
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失效分析 |
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中图分类法:
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E24 版次： 5 |
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主要责任者:
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刘贵民 liu gui min 编著 |
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主要责任者:
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杜军 du jun 编著 |