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题名:
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无损检测技术 wu sun jian ce ji shu / 刘贵民,马丽丽主编 , |
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ISBN:
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978-7-118-06621-0 价格： CNY38.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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14,358页 图 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书系统介绍了无损检测的目的、特点及其分类，对五种常规无损检测技术的物理基础、检测方法、检测工艺以及检测设备和材料进行了详细的介绍。 |
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主题词:
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无损检验 |
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中图分类法:
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TG115.28 版次： 4 |
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主要责任者:
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刘贵民 liu gui min 主编 |
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主要责任者:
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马丽丽 ma li li 主编 |
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版次:
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2版 |